reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
© nomadsoul1 dreamstime.com Przemysł elektroniczny | 03 grudnia 2012

Badania w nowym laboratorium do wykorzystania w elektronice

W Instytucie Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk (IChF PAN) otwarto laboratorium, które umożliwia badanie własności kilku najbardziej zewnętrznych warstw atomowych materiałów. Wyniki analiz są wykorzystywane m.in. w inżynierii materiałowej i elektronice.

Mazowieckie Centrum Analizy Powierzchni (MCAP) jest wyposażone w najnowszą aparaturę zakupioną m.in. w ramach europejskiego projektu NOBLESSE. Można w nim badać próbki materiałowe za pomocą kilkunastu technik spektro- i mikroskopowych – informuje IChF PAN w oświadczeniu. Analiza własności powierzchni materiałów gra w nauce i przemyśle niebagatelną rolę. Nawet niewielkie ilości zanieczyszczeń w ciele stałym, rzędu paru cząsteczek na milion, mogą „wypłynąć” na zewnątrz materiału i pokryć jego całą powierzchnię. Utworzona w wyniku tej tzw. segregacji warstwa w znacznym stopniu zmienia właściwości próbki. - Laboratoria zajmujące się technikami skaningowymi działały w naszym instytucie od dawna. Obecnie unowocześniliśmy ich wyposażenie, a fundusze europejskie umożliwiły nam zakup ostatniego brakującego elementu, czyli mikroskopu elektronowego. Pozostało nam postawić przysłowiową kropką nad i – i scalić laboratoria w jeden podmiot wyspecjalizowany w technikach analizy powierzchni – wyjaśnia prof. dr hab. Robert Hołyst, dyrektor IChF PAN. Do najważniejszego wyposażenia Centrum należą: spektrometr wielokomorowy PHI 5000 VersaProbe, spektrometr ESCALAB-210, skaningowy mikroskop elektronowy NanoSEM 450, skaningowy mikroanalizator elektronów Augera MICROLAB 350 i zestaw do elektrochemicznych badań korozji i impedancji Autolab PGSTAT302N.
reklama
reklama
Załaduj więcej newsów
September 18 2019 10:52 V14.4.0-2