reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
© Evertiq Komponenty | 08 grudnia 2014

Żyroskop BAW MEMS do trudnych zadań

Nowy żyroskop MEMS wykorzystuje materiały BAW. Mierzyć może prędkość kątową w jednej osi z wysoką dokładnością. Dzięki nowoczesnym technologiom jest nie tylko wytrzymały, ale też i tańszy od podobnych produktów konkurencyjnych.

Firma Qualtre Inc (Maliborough, Mass) opracowała nowy żyroskop półprzewodnikowy wykonany w technologii MEMS, przy wykorzystaniu materiałów BAW („bulk-acoustic wave”). Czujnik oznaczono symbolem QGYR110Hx. Jest sensorem mierzącym prędkość kątową w jednej osi. Cechuje go jednak wysoka wytrzymałość pozwalająca pracować w najtrudniejszych warunkach środowiskowych, jak zapewnia producent. Głównie chodzi tu o odporność na uderzenia i silne wibracje. Dzięki wykorzystaniu autorskich, najnowszych technologii produkcji (opierającą się na pojedynczych kryształach krzemowych i krzemu polikrystalicznego), układ ma być również tańszy od produktów konkurencji. Układ dostępny ma być w obudowie LGA32 (o wymiarach 7 na 7 mm). Do odczytywania wskazań czujnika posłużyć się będzie można dostępnym sygnałem analogowym, bądź skorzystać z interfejsu cyfrowego: I2C lub SPI. Obsługiwany zakres zawiera się w przedziale od 200 do 3000 stopni na sekundę. Opóźnienie wynosić ma około 1.25 ms. Stabilność (bias) to 14 stopni na godzinę. Niski poziom szumów i nieliniowości to dodatkowe zalety. Pobór prądu kształtować się powinien w okolicach 4.5 mA. Zastosowaniem mogą być urządzenia przemysłowe, jak roboty, drony. Mogą znaleźć swoje miejsce w stabilizacji platform, w ciężkim sprzęcie, itp.
reklama
reklama
Załaduj więcej newsów
May 14 2019 20:21 V13.3.8-1