reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
© evertiq Przemysł elektroniczny | 05 kwietnia 2016

Wykład Rohde&Schwarz na TEC Warszawa 2016

Szybka transformata Fouriera zaimplementowana w oscyloskopie to narzędzie niezwykle przydatne inżynierom przy poszukiwaniu źródeł emisji niepożądanych sygnałów. Więcej na ten temat opowie nam specjalista z firmy Rohde&Schwarz.
„Debugowanie problemów EMI z wykorzystaniem oscyloskopów cyfrowych” to temat wykładu, który poprowadzi Łukasz Gierłowski z firmy Rohde&Schwarz. Czekamy na Was już 19 maja, podczas organizowanej przez Evertiq imprezy TEC Warszawa 2016 i zachęcamy do bezpłatnej rejestracji przez naszą stronę.

evertiq.pl: - Kiedy trzeba się zająć problemem EMI?

Łukasz Gierłowski, Rohde&Schwarz: - Problemy związane z EMI czyli emisją niepożądanych sygnałów elektromagnetycznych występują na każdym etapie tworzenia modułów elektronicznych: od projektowania, po certyfikację. Im szybciej wykryjemy źródła takich sygnałów i je usuniemy, tym lepiej, bo ich wykrycie na etapie certyfikacji może oznaczać konieczność przeprojektowywania układu, co na pewno wygeneruje koszty i opóźnienia. Przydatnym narzędziem do wykrywania tego typu zakłóceń może być właśnie oscyloskop wyposażony w funkcję FFT.

- Dlaczego oscyloskop, a nie analizator widma?

- Oczywiście nie da się zastąpić analizatora widma oscyloskopem, bo analizator z założenia służy do badania sygnałów w dziedzinie częstotliwości, ale w codziennej pracy inżynierskiej, szczególnie na początkowym etapie projektowania, oscyloskop stanowi nieocenioną pomoc. Oscyloskop to standardowe narzędzie elektronika, natomiast analizator widma niekoniecznie jest tak powszechny. Do tego dochodzi kwestia dostępności, bo analizatory są wyraźnie droższymi urządzeniami. Co więcej, oscyloskop oferuje funkcje, które umożliwiają wykonanie pomiarów w szybki, prosty i miarodajny sposób. Te funkcje to przede wszystkim szybka transformata Fouriera FFT, która w naszym sprzęcie jest zaimplementowana hardware’owo, na układach FPGA, a nie na aplikacji systemu operacyjnego oscyloskopu. Jest to ekstremalnie szybka FFT, która pozwala znajdować błędy w dziedzinie częstotliwości, a ponadto możemy obserwować relację sygnału obrazowanego w dziedzinie częstotliwości do sygnału w dziedzinie czasu. Dodatkowo dostęp do historii pomiarów daje szerszy obraz i większe możliwości analizy tego, co dzieje się na płytce.

- O czym opowie Pan podczas wykładu?

- Zamierzam zaprezentować tajniki naszych najnowszych rozwiązań i opowiedzieć o funkcjonalnościach, które mogą być pomocne przy poszukiwaniu przekroczonych poziomów emisji elektromagnetycznych. Przekażę zatem wiedzę niezbędną do wykrywania źródeł niepożądanych sygnałów przy wykorzystaniu oscyloskopu w połączeniu sond pola bliskiego.

- Do kogo skierowany jest wykład?

Przede wszystkim zapraszam na mój wykład projektantów, konstruktorów, deweloperów i młodych naukowców oraz oczywiście wszystkich zainteresowanych tym tematem.

- Dziękuję za rozmowę!

Komentarze

Zauważ proszę, że komentarze krytyczne są jak najbardziej pożądane, zachęcamy do ich zamieszczania i dalszej dyskusji. Jednak komentarze obraźliwe, rasistowskie czy homofobiczne nie są przez nas akceptowane. Tego typu komentarze będą przez nas usuwane.
reklama
reklama
reklama
reklama
Załaduj więcej newsów
November 29 2016 16:13 V7.6.2-1