reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
reklama
© evertiq Przemysł elektroniczny | 27 kwietnia 2015

Wykład Interflux na TEC Warszawa 2015

Podczas organizowanego przez evertiq.pl seminarium TEC Warszawa 2015, jeden z wykładów wygłoszonych przez specjalistę firmy Interflux będzie dotyczył chemii w elektronice.
Serdecznie zapraszamy na wykład firmy Interflux, pt. „Niezawodność chemiczna w elektronice”. Będzie go można usłyszeć 21 maja 2015 roku podczas konferencji TEC, która odbędzie się w hotelu Sound Garden w Warszawie. Wystarczy zarejestrować się na naszej stronie.

evertiq.pl zaprasza na krótką rozmowę ze Stevenem Teliszewskim z firmy Interflux.

evertiq.pl: - Jakie są główne tezy wykładu?

Steven Teliszewski, Interflux:- Niezawodność chemiczna nigdy nie była głównym tematem dyskusji dotyczących lutowania bezowiołowego, podejmowanych przez grupy zadaniowe i konsorcja. Większość uwagi poświęca się właściwościom mechanicznym bezołowiowych połączeń lutowniczych, a trzeba pamiętać, że to właśnie reakcje chemiczne mogą częściej być powodem awarii modułów elektronicznych, niż usterki mechaniczna. Co więcej, odkąd powszechnie używa się stopów bezołowiowych, liczba usterek spowodowanych reakcjami chemicznymi rośnie. Powody takiej sytuacji są bardzo złożone, ponieważ należy wziąć pod uwagę wiele różnych parametrów. Dlatego niezwykle interesującym tematem jest ocena tego, co może pójść nie tak w procesie produkcji oraz poszukiwanie przyczyn usterek.

- Jakie są główne przyczyny defektów chemicznych?

- Uszkodzenia modułów elektronicznych spowodowane przez niepożądane reakcje (elektro)chemiczne można podzielić na cztery główne kategorie: spadek rezystancji izolacji, zwiększenie prądów upływu, migracja i korozja. Czynniki wywołujące defekty możemy znaleźć na każdym etapie produkcji modułu: mogą to być pozostałości chemiczne po procesie produkcji płytek PCB, ale także chemia związana z komponentami, ale także błędy na etapie obróbki lub wpływ wody i depozytów osadzających się w zanieczyszczonym środowisku.

W zależności od przeznaczenia danego modułu elektronicznego, musi być on zabezpieczony przed tego typu problemami. To oczywiście oznacza dodatkowe koszty wynikające z potrzeby wprowadzenia kolejnego procesu produkcyjnego, w dodatku możliwości ochrony przez usterkami chemicznymi są ograniczone.

Niezwykle istotną sprawą jest właściwe zdiagnozowanie problemu, by usunąć jego przyczynę. Jednym z przydatnych tu narzędzi jest analiza elementów przy pomocy skaningowego mikroskopu elektronowego.

- Do kogo skierowany jest wykład?

- Przede wszystkim zapraszam wszystkich projektantów, specjalistów czuwających nad jakością i niezawodnością oraz oczywiście technologów.

-Dziękuję za rozmowę!

Komentarze

Zauważ proszę, że komentarze krytyczne są jak najbardziej pożądane, zachęcamy do ich zamieszczania i dalszej dyskusji. Jednak komentarze obraźliwe, rasistowskie czy homofobiczne nie są przez nas akceptowane. Tego typu komentarze będą przez nas usuwane.
reklama
reklama
reklama
reklama
Załaduj więcej newsów
November 29 2016 16:13 V7.6.2-2